COMPACT Eco鍍層測厚儀

簡要描述：COMPACT Eco鍍層測厚儀的可選模塊：
μ-Master用于鍍層測量
Element--Master用于材料分析
%-Master用于材料分析（珠寶）
Report-Master用于微軟報告文件
Data-Master用于數據庫管理
Liquid-Master用于電鍍液分析

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COMPACT Eco鍍層測厚儀特性：

鍍層測厚儀COMPACT系列廣泛應用于PCB、LED、SMT、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等行業的表面鍍層厚度測量、材料分析及鍍液分析；是中、小電鍍產品鍍層厚度測量的理想檢測工具。

COMPACT Eco鍍層測厚儀具有，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節約電鍍成本。

技術指標：

型號	COMPACT Eco	COMPACT Eco PIN	備注
測量元素范圍	Ti22---U92
鍍層和成分分析	鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層+基體材料）成分：zui多同時測量20種元素
測量方法	FP（經驗數據法），無需標準樣片
X射線激發	50Kv、1.2mA(60W)高壓發生器微聚焦W靶X射線管
成像系統	彩色視頻系統 20倍放大倍數被測樣品圖像實時顯示功能電腦顯示屏具有畫中畫功能
計算機系統	Inter Pentium G2030，內存2G，硬盤500G 17吋液晶彩色顯示器 MicrosoftTM Win7 32bit
樣品臺規格	240×240mm樣品臺 zui大承重5Kg
儀器外形	長×寬×高400×600×400mm（不含電腦、顯示器）
zui大樣品	長×寬×高380×370×100mm
程控Z軸移動距離	≤60mm
主機重量	41Kg（不含電腦、顯示器）
單準直器規格	Ø0.3、Ø0.5mm	Ø0.1、Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5mm 0.1×0.3mm	僅配單準直器
探測器	正比例計數器	25mm2半導體（Si-PIN）探測器，Peltier電制冷能量分辨率約270eV
軟件模塊可選	μ-Master用于鍍層測量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析（珠寶） Report-Master用于微軟報告文件 Data-Master用于數據庫管理 Liquid-Master用于電鍍液分析
產地	德國

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