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簡要描述:鍍層測厚儀X-Strata920系列,屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀,廣泛應(yīng)用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測量、材料分析;是各類電鍍產(chǎn)品鍍層厚度測量的理想檢測工具。
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鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比,有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準(zhǔn)、測量時間短等特點(diǎn);具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性,能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,節(jié)約電鍍成本。
鍍層測厚儀X-Strata920工作特點(diǎn):
儀器參數(shù)
型號 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM | |||
名稱 | 半自動 | 自動臺 | |||||
固定臺 | 單準(zhǔn)直器加深臺 | 多準(zhǔn)直器加深臺 | |||||
樣品圖片 |
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測量元素范圍 | Ti22---U92 | ||||||
鍍層和成分分析 |
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測量方法 |
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X射線激發(fā) |
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成像系統(tǒng) |
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計算機(jī)系統(tǒng) |
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樣品臺規(guī)格 |
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儀器外形 寬×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm | ||||
Z軸 | 使用鼠標(biāo)控制,程控移動距離43mm | ||||||
準(zhǔn)直器規(guī)格 |
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探測器 | 正比例計數(shù)器 | ||||||
工作原理 | 對被測樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度,X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
安全性 |
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結(jié)果輸出 |
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