能量色散型
X射線熒光分析儀滿足所有領域不同的應用
電子電氣
1.RoHS指令、無鹵素等篩選分析;
2.半導體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析;
汽車機械
1.應對ELV指令的篩選分析;
2.各種機械零部件結構分析及鍍層厚度、化學合成外膜附著量的檢測;
鋼鐵非金屬
1.原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析;
2. 爐渣的組成分析;
在測定微量成分時,由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
的分析性能
采用高性能的SDD檢測器,確保硬件*化,具有*的高靈敏度·高速分析和高分辨率。可以檢測出6C~的機型正式上線(EDX-8000)。
高靈敏度提高檢測下限1.5~5倍,高性能的SDD檢測器與*化的光學系統和一次濾光片的組合,實現*的高靈敏度。從輕元素到重元素,全范圍輕松應對。與采用傳統Si(Li)半導體檢測器的分析裝置相比,靈敏度也更勝*。
高速的分析速度zui大可提高10倍,SDD檢測器在單位時間X射線熒光的計數率高,因此能夠在更短的檢測時間內進行高精度分析。特別是對金屬材料的分析,這個特點可以得到zui大限度的發揮。