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鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比,有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點;具有高生產力、高再現性,能有效控制產品質量,節約電鍍成本。
鍍層測厚儀X-Strata920工作特點:
儀器參數
型號 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM | |||
名稱 | 半自動 | 自動臺 | |||||
固定臺 | 單準直器加深臺 | 多準直器加深臺 | |||||
樣品圖片 |
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測量元素范圍 | Ti22---U92 | ||||||
鍍層和成分分析 |
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測量方法 |
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X射線激發 |
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成像系統 |
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計算機系統 |
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樣品臺規格 |
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儀器外形 寬×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm | ||||
Z軸 | 使用鼠標控制,程控移動距離43mm | ||||||
準直器規格 |
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探測器 | 正比例計數器 | ||||||
工作原理 | 對被測樣品發射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度,X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
安全性 |
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結果輸出 |
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